TracePro® - Programa de Diseño de Sistemas Ópticos

¿Sabías que es posible medir la Longitud del Camino Óptico y el Tiempo de Vuelo con TracePro®?

TracePro® ofrece un potente gráfico de longitud del camino óptico (OPL) y tiempo de vuelo (ToF) que permite a los usuarios medir la distancia y el tiempo que tardan los rayos en viajar a través de un sistema óptico. Esta función es indispensable para optimizar el rendimiento en sistemas como LiDAR, telémetros láser y espectroscopia de absorción.

A continuación, se muestra cómo el gráfico de OPL/ToF puede mejorar el análisis de su sistema óptico:

• Precise Optical Path Tracking (Seguimiento Preciso del Camino Óptico): para medir la distancia exacta que recorren los rayos desde una fuente hasta una superficie seleccionada en su sistema.
• Time-of-Flight Calculation (Cálculo del Tiempo de Vuelo): para realizar un seguimiento preciso del tiempo que tardan los rayos en viajar a través de su sistema, una métrica fundamental en los sistemas de telémetros láser y LiDAR para la medición de distancias.
• Papel Clave en la Espectroscopia: en aplicaciones como la espectroscopia de absorción y las celdas de gas de múltiples pasos, la OPL se utiliza para determinar la absorción de una muestra.
• Datos Completos: a información de la OPL también está disponible en la tabla de rayos incidentes (Incident Ray Table) para un análisis adicional.

El gráfico de OPL/ToF es una herramienta esencial para cualquier persona que trabaje con sistemas ópticos donde la longitud de trayectoria y la sincronización precisas son fundamentales.

Obtenga más información sobre cómo las herramientas de OPL y ToF de TracePro® pueden optimizar el rendimiento de su sistema y mejorar sus diseños.

¿Sabías que se puede realizar el Parth Sorting (Clasificación de Trayectorias) con TracePro®?

TracePro® ofrece una herramienta de clasificación de trayectorias (Path Sorting) potente y flexible que permite a los usuarios visualizar y analizar las diferentes trayectorias que siguen los rayos para alcanzar superficies seleccionadas en un sistema óptico. Esta función es un punto de inflexión para quienes buscan realizar un análisis preciso de la luz difusa u optimizar sus diseños para lograr un mejor rendimiento y eficiencia.

Así es como la Path Sort Table puede beneficiar el análisis de su sistema óptico:

• Seguimiento Detallado de la Trayectoria de los Rayos: vea todas las trayectorias discretas que siguen los rayos a través de su sistema, ya sea un detector, un objetivo u otras superficies.
• Filtros Personalizados para un Ánálisis Preciso: aplique filtros para ver las trayectorias de los rayos que interactúan con superficies específicas o tienen características de dispersión particulares.
• Visualizaciones Gráficas yTabulares: vea las trayectorias de los rayos en formato tabular o gráficamente en el modelo TracePro®, junto con el mapa de irradiancia/iluminancia.
• Identificación de Posibles Problemas: ordene las trayectorias de los rayos por flujo para determinar rápidamente si la luz difusa podría ser problemática para su diseño.

La tabla de clasificación de trayectorias (Path Sort Table) es una herramienta esencial para cualquier persona que trabaje en el diseño de sistemas ópticos y necesite comprender cómo interactúan los rayos dentro de su sistema.

Obtenga más información sobre cómo la herramienta de clasificación de trayectorias de TracePro® puede mejorar sus diseños y el rendimiento de su sistema.

¿Sabías que se puede realizar el análisis fotométrico con TracePro®? 

TracePro® permite realizar un análisis fotométrico completo, brindando al usuario la capacidad de simular y evaluar los principales parámetros de la luz visible, tales como

• Flujo luminoso: Medida en lux, los mapas de irradiancia/iluminancia de TracePro® le permiten evaluar la distribución de la luz en un área determinada.
• Intensidad: los gráficos de candelas de TracePro® brindan información sobre las distribuciones de intensidad de la luz, medidas en candelas (lúmenes por estereorradián).
• Luminancia: Fundamental para lo que percibe el ojo humano, la luminancia se visualiza utilizando mapas de luminancia y herramientas de renderizado fotorrealista. La luminancia se mide en liendres (candelas por metro cuadrado).

Estas herramientas fotométricas son indispensables para el diseño de sistemas ópticos y ayudan al usuario a lograr un rendimiento óptimo en todo, desde pantallas hasta sistemas de iluminación. Para un análisis aún más exhaustivo, TracePro® ofrece equivalentes radiométricos, proporcionando información sobre el flujo radiante, la irradiancia, la intensidad radiante y la radiancia.

Obtenga más información sobre cómo puede aprovechar las capacidades fotométricas avanzadas de TracePro® para optimizar sus diseños ópticos. 

¿Sabías que se encuentran disponibles instaladores anteriores de TracePro®? 

Si tienes una licencia de TracePro® y necesitas instalar una versión no actual de TracePro® en un ordenador nuevo o diferente, el portal Internet de Lambda Research te será útil.

Incluso si tu licencia de TracePro® no está actualmente bajo contrato de mantenimiento y soporte, en la mayoría de los casos aún es posible obtener un instalador para la versión de TracePro® compatible con tu licencia.

Actualmente, hay instaladores anteriores disponibles para TracePro® 7.8.0 y versiones más recientes.

¿Sabías que TracePro® puede modelar la difracción de bordes y aperturas?

La difracción de bordes y aperturas ocurre cuando la luz es bloqueada parcialmente por un borde y luego se dobla o difracta.

El método que TracePro® utiliza para modelar la difracción es asintóticamente correcto o, en otras palabras, es correcto para la difracción de ángulos amplios o grandes.

TracePro® no mostrará anillos de difracción en los mapas de irradiancia/iluminancia, pero la energía bajo la curva es correcta. TracePro® puede modelar la difracción a partir de lentes y aperturas.

Al modelar la difracción a partir de una apertura, será necesario agregar un objeto ficticio a la apertura.

Esta capacidad de difracción de bordes y aperturas está disponible en las ediciones Standard y Expert de TracePro®. 

¿Sabías que TracePro® puede utilizar archivos Rayfiles (archivos de rayos) para modelar fuentes de luz?

Los Rayfiles son una excelente opción para modelar fuentes de luz como los LED. Muchos proveedores de LED ofrecen Rayfiles. Normalmente, los archivos de rayos se pueden descargar desde el sitio web del fabricante del LED.

Cada rayo en un rayfile puede tener una posición inicial única, por lo que los rayfiles son modelos tridimensionales de la salida de la fuente de luz.

Los Rayfiles se pueden agregar fácilmente a cualquier modelo de TracePro® como un Source File (archivo de fuente). Es posible definir la posición inicial de los rayos y la dirección en la que viajarán. Los Source Files se pueden mover, rotar y copiar, de modo que es posible crear matrices de Source Files de forma rápida y sencilla con TracePro®.

No hay límite para la cantidad de fuentes de archivos que se pueden usar en un modelo TracePro®. TracePro® puede importar los formatos de Rayfiles .txt, .dat, .src y .ray, así como el nuevo formato .tm25ray. Los archivos de datos fotométricos IES y LDT también son un tipo de Rayfile y también se pueden utilizar en TracePro®. Tenga en cuenta que los archivos IES y LDT no contienen datos de posición de los rayos, por lo que son fuentes puntuales y no fuentes tridimensionales.

Es posible utilizar los Rayfiles  en todas las ediciones de TracePro®.

¿Sabías que TracePro® ahora puede modelar elementos ópticos difractivos, también llamados DOE? Los elementos ópticos difractivos (DOE) utilizan la difracción para doblar la luz en múltiples órdenes en ángulos precisos. Esto permite soluciones compactas, ligeras e innovadoras para los desafíos del diseño óptico. Los DOE se pueden utilizar en iluminación, litografía, imágenes biomédicas y muchas otras aplicaciones.

Las ediciones TracePro® Standard y Expert ahora pueden modelar elementos ópticos difractivos.

Hay tres nuevos tipos de propiedades de superficie disponibles para modelar DOE:

• Elemento óptico holográfico(HOE)
• holograma generado por computadora (CGH)
• Fase Zernike phase

La superficie del holograma generado por computadora puede ser radialmente simétrica, asimétrica x-y o asimétrica (valor absoluto). Además, los diseños DOE creados en OSLO se pueden abrir en TracePro®.

¿Sabías que Source Builder de TracePro® simplifica la creación de fuentes de luz personalizadas? Con cinco opciones, los usuarios pueden generar rápidamente fuentes de luz personalizadas. Por ejemplo:

• Las fichas técnicas de fuentes de luz, como las fichas técnicas de LEDs, se pueden utilizar para crear nuevas propiedades de fuentes de luz se de superficie con patrones de haz uniformes o asimétricos
• Los archivos IES se pueden transformar en File Sources (Archivos de Fuentes) y/o Propiedades de fuentes de superficie.
• Los archivos de imagen se pueden convertir en File Source ubicados en el sistema
• Los archivos Rayfile que no están en formato TracePro® se pueden convertir al formato TracePro
• Además, es fácil crear las fuentes de luz puntuales, rectangulares y circulares

El Source Builder se encuentra disponible en todas las ediciones de TracePro®.

¿Sabías que Solar Emulator en TracePro® permite a los usuarios modelar el efecto del seguimiento solar para colectores y concentradores solares? Hay cinco opciones disponibles:

• Ninguna
• Apuntar al sol
• Uniaxial
• Uniaxial y Apuntar al sol/li>
• Enfoque fijo con reflector

La opción Apuntar al sol rotará el colector para que siempre mire al sol. La opción Uniaxial rotará el colector alrededor de un eje fijo. El enfoque fijo con reflector hará girar un reflector de modo que la luz siempre se refleje desde el reflector hacia un punto focal fijo, como en un sistema de helióstato.

El Solar Emulator está disponible en todas las versiones de TracePro®.

¿Sabías que TracePro® presenta una capacidad increíblemente poderosa de muestreo por importancia?

El Importance Sampling es una herramienta extremadamente eficaz y útil para el análisis de luz parásita, así como para muchos otros desafíos de análisis y diseño óptico.

Un ejemplo sería la luz fuera del eje que entra en un telescopio y se dispersa por una superficie interior hacia el detector. Esta luz parásita puede provocar una reducción del rendimiento y una degradación de la imagen producida.

Con los métodos de trazado de rayos estándar (ray tracing), es posible que las trayectorias de baja probabilidad, como la luz dispersa, no se muestreen lo suficiente y puede resultar difícil obtener resultados precisos de manera eficiente.

El muestreo de importancia permite al usuario mejorar el muestreo definiendo objetivos hacia los cuales se desvían o muestrean los rayos. Una característica clave del muestreo de importancia es que se mantiene el flujo correcto, por lo que aunque lleguen más rayos al objetivo, los resultados siguen siendo precisos y iables. El muestreo de importancia también es mucho más eficiente que simplemente aumentar el número de rayos trazados, por lo que la tarea se puede realizar de manera más eficiente y precisa. El Importance Sampling puede permitirle ahorrar tiempo y dinero.

La función Importance Sampling está disponible en las ediciones Standard y Expert de TracePro®.

¿Sabías que TracePro® incluye una herramienta de renderizado fotorrealista?

Photorealistic Rendering, también conocido como modelado de apariencia iluminada, permite a los usuarios ver cómo se verá una guía de luz, una pantalla o una luminaria cuando esté iluminada. Esta iluminación puede provenir de fuentes de luz internas y/o externas.

Los usuarios pueden definir la orientación de visualización, el nivel de calidad y si se utilizarán fuentes de luminancia externas. La luminancia externa se puede utilizar para ver si una pantalla puede superar la luminancia ambiental. También hay una opción para mostrar mapas de luminancia, por lo que también están disponibles los datos cuantitativos.

Photorealistic Rendering está disponible en todas las ediciones de TracePro®. En las ediciones TracePro® Standard y Expert, el renderizado fotorrealista se puede combinar con los programas de Scheme macro para mostrar fácilmente múltiples ángulos de visión y/o movimiento.